Laboratorio de caracterización de materiales
Caracterización de Materiales
Aquí se puede llevar a cabo un análisis detallado de cualquier material, desde la investigación fundamental hasta el control de calidad industrial. Contamos con un equipo de tecnología de punta bruker D8 advance eco, un difractómetro de rayos X que puede configurarse para todas las aplicaciones de difracción de polvo, incluyendo la identificación de fases, el análisis de fase cuantitativa, el análisis de microestructura y estructura cristalina.
Servicios
Análisis de difracción de rayos X para muestras en polvo de materiales cerámicos.
Obtención de datos de intensidad de las cuentas y datos obtenidos en la configuración estándar theta – 2 theta.
- Fuente de rayos X de alto-brillo, fuente de rayos X de 1kW de larga duración para una mayor eficiencia
- Reduce el consumo de energía y elimina la necesidad de agua de enfriamiento externo.
- Detector de SSD160: detector unidimensional para mediciones de difracción de Rayos X ultra rápidas
- Adquisición de datos de difracción de alta calidad más de 125 veces más rápido que cualquier sistema detector convencional.
- Altas capacidades de prueba (0.0 a 10 W/mK) a temperatura ambiente.
- Alta velocidad en medición (0.8 a 3 segundos)
- Aplicabilidad en todas las investigaciones en sólidos
- Obtención de datos importantes como: K (conductividad térmica) y efusividad
